微分干涉是一种利用光的干涉现象进行成像的技术,其光学原理基于干涉效应。当两束光通过光学系统时会发生相互干涉,如果相位相同,干涉的结果是亮度增强;反之,就会相互抵消变暗。
在微分干涉中,光源发出的光经特定光学元件(如沃拉斯顿棱镜或DIC棱镜)后,被分解为两束频率相同的相干光束。这两束光同时聚焦投射在被测物表面上相距很近的点,形成两个光斑。这两束相干光之间的光程差取决于两束光投射点的相对高度。被测物表面的高度变化会导致光程差的变化,通过检测这种光程差的变化,可以测量出被测物表面的形貌。
在微分干涉显微镜中,光源通常为平面偏振光。光线经棱镜折射后分成两束,这两束光会在不同时间经过样品的相邻部分。当这两束光由样品表面反射后再次进入棱镜时,由于样品表面的不平整、裂纹、微孔、凹陷、晶界等特征,它们会产生不同的反射和相位变化,从而形成新的光程差。这些光程差的变化最终会转化为干涉信号,通过信号处理和数学算法,可以实现对物体表面形貌的重建和测量。
微分干涉成像原理在物体表面形貌测量、光学显微镜、无损检测等领域有着广泛的应用。
您可能也对以下信息感兴趣
生产中心:广东省东莞市东城区柏洲边社区涌尾路68号
营销中心:东莞市松山湖高新区中集智谷产业园15栋
苏州办事处:苏州市工业园区唯新路60号启迪时尚科技城40栋
微信二维码
版权所有:东莞市普密斯精密仪器有限公司 ICP备案号:粤ICP备16046605号 技术支持:誉新源科技