什么是线扫镜头？

线扫镜头是一种专门用于从一个方向持续拍摄被测物体表面的镜头，通常与线阵传感器配合使用。它通过不断移动或平动来持续扫描被测物体，从而获取整个物体的图像。线扫镜头在高精度检测、大幅面扫描等领域具有广泛应用。

线扫镜头方案所需机器视觉硬件

1、线扫镜头：根据检测需求和物体尺寸，选择合适的线扫镜头，如Moritex ML-120系列等。这些镜头通常具有高精度、高分辨率和低畸变等特点，能够满足不同领域的检测要求。

2、线阵相机：与线扫镜头配套使用的线阵相机，具有高灵敏度、高分辨率和快速扫描速度等特点。它能够捕捉到物体表面的微小细节，提高检测的准确性和可靠性。

3、光源：为了获得清晰的图像，需要选择合适的光源进行照明。常用的光源包括LED光源、光纤照明系统等。这些光源能够提供稳定、均匀的光照，确保图像质量。

4、运动控制装置：为了实现线扫镜头的连续扫描，需要配备运动控制装置，如电机、导轨等。这些装置能够精确地控制镜头的移动速度和位置，确保扫描的准确性和稳定性。

线扫镜头方案所需机器视觉软件

1. 图像处理软件：用于对采集到的图像进行预处理、增强和分割等操作，以提高图像质量和检测准确性。

2. 机器视觉工具软件：提供一系列的工具和算法，用于实现物体的识别、定位、测量和检测等功能。这些软件通常具有友好的用户界面和强大的功能，能够满足不同领域的检测需求。

3. 运动控制软件：用于控制运动控制装置的运行，实现镜头的连续扫描和定位。这些软件通常具有精确的控制算法和实时反馈功能，能够确保扫描的准确性和稳定性。

线扫镜头方案应用示例

以半导体硅晶圆检测为例，可以使用普密斯LL系列线扫镜头搭配16K5μ的线扫相机和机器视觉光源进行高精度检测。该方案能够实现高达μm的精度，视野达到23mm，周边亮度均匀性高达99%，并且成像的全幅面一致性也明显高过现有的同级别镜头。此外，该方案还具有低畸变、高通光量和接近衍射极限的设计等优点，能够满足半导体硅晶圆检测的高精度要求。