SFS-D8080K光谱共焦传感器应用极片厚度测量

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2025/10/15

作者:adminBOSS

一、行业痛点与变革需求

 

 

在新能源产业蓬勃发展的当下,锂电池作为核心动力源,其内部极片的厚度均匀性直接影响着电池的能量密度、循环寿命及安全性能。传统接触式测厚仪不仅存在划伤风险,且无法适应高速产线的动态检测要求。市场亟需一种高精度、非接触式的在线测量解决方案,而普密斯自主研发的SFS-D8080K光谱共焦传感器正是为此而生的创新利器。

 

 

 

二、技术突破:光学精密测量新标杆

 

 

1. 共焦光谱分析技术

 

采用先进的白光干涉原理,通过多波长复合光源垂直入射被测表面,利用不同波长光路差产生的干涉条纹进行亚微米级解析。相较于传统激光三角法,该技术不受材料反光率影响,对金属箔材、涂层复合结构等复杂工况具有更强的适应性。

 

 

2. 智能算法优化

 

内置高速FPGA芯片配合自适应滤波算法,可实时消除环境振动干扰,确保在设备高速运转状态下仍能保持±0.1μm的重复测量精度。独特的温度补偿系统有效解决热膨胀带来的误差累积问题。

 

 

 

三、产品优势全解析

 

1. 卓越性能参数

 

2. 创新设计亮点

 

• 模块化光学探头:可快速更换不同视场角镜头,兼顾局部细节检测与整体幅宽扫描;

 

• 双通道独立校准:支持上下表面同步测量,自动计算总厚度及单侧偏差;

 

• 自清洁功能:气动除尘装置有效防止粉尘附着,减少人工维护频次。

 

 

 

四、智造赋能:从数据采集到过程控制

 

配套的PMS智能管控系统深度集成MES平台,具备三大核心价值:

 

  • 可视化监控界面:实时显示三维形貌云图与厚度分布热力图,异常点自动标记追溯;

 

  • SPC统计分析模块:自动生成CPK/PPK过程能力指数,预警潜在工艺偏移;

 

  • 闭环反馈机制:与涂布机形成联动控制,实现厚度偏差的毫秒级修正响应。

 

 

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