产品简介
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全自动影响测量仪METX系列拥有多款结构类型可选，搭配静音级驱动平台，保证设备的运行精度及稳定性；多组普密斯自研测量镜头方案，产品测量更加全面高效。
产品软件简介
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采用OS/APP架构,可以兼容尺寸测量、传感器测量、轮廓度检测、视觉检测等多个功能模组，并能根据需求灵活切换,同时软件还支持多种测量传感器(点光谱、线激光、线光谱、探针等)测量更全面，操作更简单,极大提高测量效率。
METX S系列参数
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METX P系列参数
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产品简介
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全自动影响测量仪METX系列拥有多款结构类型可选，搭配静音级驱动平台，保证设备的运行精度及稳定性；多组普密斯自研测量镜头方案，产品测量更加全面高效。
产品软件简介
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采用OS/APP架构,可以兼容尺寸测量、传感器测量、轮廓度检测、视觉检测等多个功能模组，并能根据需求灵活切换,同时软件还支持多种测量传感器(点光谱、线激光、线光谱、探针等)测量更全面，操作更简单,极大提高测量效率。
METX S系列参数
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METX P系列参数
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