产品介绍
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普密斯3D白光干涉轮廓仪Meter View 系列 WLI-1000能够以优于纳米级的分辨率实现“面”测量，非接触式测量样品表面形貌，不损伤产品本身。广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域，用于表面形貌纹理，微观结构分析。
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| 紧凑的外观设计适⽤于实验室和现场应⽤； |
⼯件台控制测量图像实时显⽰三维结果 显⽰横截⾯选取及分析； |
测量和分析软件⽤⼾界⾯直观易⽤ 强⼤的分析功能； |
产品特点
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1、表征微观形貌的粗糙度测量；
2、台阶高、角度等轮廓尺寸测量；
3、自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；
4、校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等数据处理功能；
5、对比分析和多文件分析等辅助分析功能。
应用领域
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| 光学制造 | 材料科学 | ||
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表⾯状况、厚度变化、形状精度......
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薄膜厚度、光学常数、表⾯平整度......
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| 电⼦⼯业 | 机械制造 | ||
| 微型器件、电路板、半导体制造. | 轮廓、轴向曲率、表⾯平坦度...... | ||
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产品参数
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