光谱共焦传感器,光谱探头SFS-D8055

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2025/07/01

作者:adminBOSS

光谱共焦传感器SFS-D8055

 

 

 

 

光谱共焦传感器SFS-D8055测厚方案

 

 

1. 方案组成:双探头协同工作,通过发射不同波长的光束并接收反射光,利用光谱偏移原理计算物体厚度。优势:非接触式测量,避免探头与被测物体接触造成的磨损或形变。实时性强,可动态监测生产线上的厚度变化。双探头设计可抵消部分环境干扰(如振动、温度波动),提升测量稳定性。

 

2. 软件:搭配CCS 光谱测量软件能够实时数据采集与处理,生成厚度曲线或报表。支持参数校准(如零点、量程)和误差补偿,优化测量精度。兼容多种通信协议(如 USB、以太网),便于集成到自动化产线系统。

 

 

 

光谱共焦传感器SFS-D8055应用场景

 

1. 工业制造:金属板材、塑料薄膜、纸张涂层的在线厚度监测。

2. 半导体与电子:晶圆镀层、PCB 板绝缘层厚度检测。

3. 科研与质检:材料科学研究中多层结构的厚度分析,质检环节的精度验证。

 

 

光谱共焦传感器基于 “波长 - 焦距” 对应关系:不同波长的光经透镜聚焦后在不同轴向位置形成焦点,当被测物体表面反射光时,通过分析反射光谱的峰值波长,可计算出物体到探头的距离(或厚度)。该技术相比传统激光测距,具有抗散射能力强、适用于粗糙表面等优势。

 

 

技术方案

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