在精密测量领域，图像尺寸测量仪凭借广泛的测量范围与高效的测量速度脱颖而出，无论是二维尺寸的精准把控，还是三维轮廓的细致扫描，都能轻松胜任。而在其复杂且精密的测量系统中，光源作为关键组成部分，直接影响着测量结果的准确性与可靠性。以普密斯图像测量仪IMAGE3系列为例，该系列内置底光、间隙光、表面光三款光源，并配备一个外置同轴光（选配）

内置底光：穿透透明，勾勒轮廓

底光通常安装在图像尺寸测量仪的载物台下方，光线从底部向上照射被测物体。其主要工作内容是为测量提供基础照明，尤其适用于测量具有透明或半透明特性的物体。

当光线穿过这类物体时，会在物体内部产生特定的光学效果，使得物体的轮廓、边缘以及内部结构在图像传感器上清晰成像。例如在测量玻璃制品、塑料薄膜等透明物体时，底光能够突出物体的厚度变化、内部缺陷以及边缘轮廓，帮助测量系统准确获取物体的尺寸信息，确保测量结果的精确性。

内置间隙光：深入缝隙，洞察细节

间隙光的设计目的是针对具有间隙、缝隙或凹槽结构的物体进行测量。它能够产生特定角度和强度的光线，这些光线可以深入到物体的间隙内部，并在间隙的边缘处形成明显的明暗对比。

通过捕捉这种明暗变化所形成的图像，测量系统可以精确地识别间隙的宽度、深度以及形状等参数。比如在测量电子元件中芯片与基板之间的间隙、机械零件中配合部件的缝隙等场景下，间隙光发挥着关键作用，为高精度的间隙尺寸测量提供可靠的光照条件。

内置表面光：均匀照亮，凸显特征

表面光主要负责照亮被测物体的表面，为测量物体表面的尺寸、形状以及表面特征提供充足且均匀的光照。它能够消除物体表面因反射、阴影等因素造成的图像干扰，使物体表面的细节更加清晰可见。

在测量金属零件、塑料制品等物体的表面平整度、粗糙度以及表面缺陷（如划痕、凹坑等）时，表面光可以确保测量系统获取高质量的图像，从而准确分析物体表面的各项参数。此外，表面光还可以根据不同的测量需求调整光照角度和强度，以适应各种复杂表面的测量任务。

外置同轴光（选配）：消除眩光，精准测量

同轴光是一种特殊的光源配置，其光线与测量系统的光学轴线同轴。这种设计使得光线能够以垂直的角度照射到被测物体表面，并且反射光线也能沿着相同的轴线返回，被图像传感器接收。

同轴光的主要优势在于能够有效消除物体表面反射光所产生的眩光和阴影，尤其适用于测量具有高反射率表面的物体，如镜面、金属光泽表面等。在这些测量场景中，同轴光可以提供清晰、无干扰的图像，使测量系统能够准确识别物体的边缘和特征，大大提高测量的准确性和可靠性。由于其出色的性能，同轴光通常作为选配光源，为用户在面对特殊测量需求时提供更优质的光照解决方案。

普密斯图像测量仪IMAGE3系列的这四款光源，各自发挥着独特且不可替代的作用。它们相互配合、协同工作，为测量系统提供了全面、精准的光照支持，能够满足不同行业、不同物体的多样化测量需求。无论是在制造业中对产品质量进行严格把控，还是在科研领域进行高精度的实验研究，该系列图像测量仪凭借其卓越的光源设计和出色的测量性能，都将成为可靠的测量伙伴，助力各行业实现更高效、更精准的测量目标，推动行业不断向更高水平发展。